技術文章 / article 您的位置:網(wǎng)站首頁 > 技術文章 > 簡述檢測器的切光片頻率

簡述檢測器的切光片頻率

更新時間:2023-07-18   點擊次數(shù): 759次

切光片的調制頻率稱為切光頻率,一般薄膜電容檢測器的調制頻率為3-15HZ,屬于超低頻范圍。調制頻率低,則穩(wěn)定性好,傳動系統(tǒng)簡單可靠,靈敏度相對高一點。但因為反應速度較慢,不利于放大、整流及濾波處理,對放大器的制作就比較困難。調制頻率高,則正好與上述相反,雖然穩(wěn)定性差一點,但對后面的放大器制作就容易一些。

熱電偶檢測器是利用熱電偶的熱效應制作而成。待測組分吸收紅外線輻射后導致熱量變化,再經過熱電偶將熱量的變化轉化為電信號。用熱電偶做雙光束紅外線氣體分析儀的檢測器時,吧測量邊和參比邊的兩個熱電偶反向串聯(lián),在平衡狀態(tài)下,輸出為零。由這種檢測器輸出的電信號是十分微弱的,需經放大器把微弱的電信號放大,才能供顯示儀表顯示或記錄。為了提高儀表的靈敏度,可將多個熱電偶串接成熱電堆,但串接的焊接點最多不能超過6-8個。

另一種檢測器是半導體光電檢測器。由于薄膜電容檢測器的薄膜易受機械振動的影響,同時檢測器氣室因泄漏而致使基線漂移,另外,前面已經講過,它還具有調制頻率不能提高,放大器制作比較困難,儀表整機體積較大等缺點,國外已經出現(xiàn)采用半導體光電檢測器的紅外線氣體分析儀。


在線客服 聯(lián)系方式

服務熱線